日本TESTRAM泰斯特瑞 T8200PRO 低頻/高頻共振頻率檢查機(jī)

日本TESTRAM泰斯特瑞 T8200PRO 低頻/高頻共振頻率檢查機(jī)

 T8200PRO的特點(diǎn)
[卡天線] 用于通信檢查的探頭。測量諧振頻率并同時(shí)讀取 UID（FeliCa 為 IDm）。您可以在檢查其個(gè)人身份的同時(shí)使用該卡。
[標(biāo)簽用天線] 檢查探針（天線）我們提供適合各種標(biāo)簽形狀的各種天線。*如果您需要不適用的特殊檢查，我們可以為您設(shè)計(jì)。
支持故障排除
RFID故障的原因有多種，但可能的原因包括“與讀寫器的諧振頻率不匹配"和“內(nèi)部天線斷開"。 T8200PRO可用于識(shí)別此類缺陷的原因。
【T8200PRO產(chǎn)品介紹視頻】
更方便、輕松
與操作網(wǎng)絡(luò)分析儀等測量儀器相比，不需要復(fù)雜的操作。通過一根 USB 電纜即可完成連接。檢查設(shè)置屏幕也易于理解并為操作員提供支持。它還節(jié)省空間且重量輕，攜帶起來非常方便。
T8200PRO使用場景
測量開發(fā)的RFID的特性
可用于檢查開發(fā)的RFID標(biāo)簽是否具有設(shè)計(jì)的諧振頻率。
運(yùn)輸過程中質(zhì)量穩(wěn)定
用戶可以設(shè)定自己的判斷標(biāo)準(zhǔn)并進(jìn)行檢查，以確保質(zhì)量穩(wěn)定性。
找出多個(gè) RFID 之間的差異
可用于采購和發(fā)貨時(shí)的選型工作。您可以輕松地從多個(gè)公司的產(chǎn)品中進(jìn)行比較并選擇 產(chǎn)品。
帶到現(xiàn)場進(jìn)行檢查
輕巧緊湊，方便攜帶，可用于現(xiàn)場解決問題。 （由于它使用 USB 電源，如果您有筆記本電腦，您可以輕松隨身攜帶并進(jìn)行測試。）
找出多個(gè) RFID 之間的差異
T8200PRO可以集成并用于批量生產(chǎn)設(shè)備內(nèi)部的檢查。*使用T8200PRO DIO兼容版本（PLC兼容版本）時(shí)
T8200PRO測量屏幕
T8200PRO可以測量“諧振頻率"、“Q值"和“UID（IDm）"* UID（IDm）測量功能是可選功能。
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T8200PRO便捷的功能
T8200PRO規(guī)格
規(guī)格
測量方法
使用磁場耦合進(jìn)行非接觸式諧振頻率測量
測量細(xì)節(jié)
傳輸或反射電壓的幅度
檢查項(xiàng)目諧振頻率、衰減、Q 值，選項(xiàng)：  ID（UID、IDm）讀數(shù)UID讀取兼容協(xié)議注1)
ISO14443A(MIFARE Classic、MIFARE Ultralight)：UID
ISO14443B：PUPI
FeliCa：IDm
ISO15693(Tag-it HF-I Plus/Pro、I?CODE SLIX2)：UID
測量點(diǎn)數(shù)
100-2048分檢查時(shí)間注2) (測量點(diǎn)數(shù)=1000時(shí))
無 ID 讀取檢查：0.5 秒（典型值）
有 ID 讀取檢查：1 秒（典型值）
測試結(jié)果/測試波形存儲(chǔ)功能
檢查日志文件（csv）：
檢查時(shí)間、ID、PASS/FAIL、諧振頻率、衰減、Q 值波形數(shù)據(jù)：csv、jpg 格式
頻率設(shè)定范圍
10kHz 至 1200MHz
施加功率（@50Ω負(fù)載）-30 至 +15 dBm
DIO電路類型
隔離（光電耦合器）輸入/輸出
DIO 端子絕對(duì)最大額定值輸入端：輸入正向電流50mA 輸出端：正向電壓80V，反向電壓7V，正向電流50mA
系統(tǒng)要求
PC（操作系統(tǒng)）：Windows7、Windows 8.1、Windows10、Windows11
USB2.0或更高版本電源
USB總線電源（消耗電流500mA以下）附屬物主機(jī)、USB 電纜、同軸電纜（2 500mm）、Windows 安裝光盤
尺寸、重量125(W)×165(D)×40(H) mm 0.8kg 不含突出部分
注 1) “Tag-it HF-I"是 TEXAS INSTRUMENTS 的注冊商標(biāo)，“I?CODE SLI"和“MIFARE"是 NXP Semiconductors 的注冊商標(biāo)，“FeliCa"是 Sony Corporation 的注冊商標(biāo)。注2) 本裝置不是RFID讀寫器。這不是用于評(píng)估測試目標(biāo)的通信性能的設(shè)備。　　　根據(jù)所檢查的內(nèi)容，UID 可能無法讀取。注3）檢查時(shí)間取決于所使用的PC、儀器的檢查設(shè)置、檢查目標(biāo)的特性等。
*設(shè)計(jì)和規(guī)格若有變更，恕不另行通知。
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